濕熱試驗(yàn)

濕熱試驗(yàn)往往使試驗(yàn)樣品的金屬材料受到腐蝕和某些材料因吸水而變形等。這些影響往往是不可逆的。留有這些影響的試驗(yàn)樣品進(jìn)行后續(xù)試驗(yàn)時(shí)，會(huì)使后續(xù)試驗(yàn)的結(jié)果不真實(shí)。因此一般應(yīng)將濕熱試驗(yàn)安排在這些試驗(yàn)后進(jìn)行。不應(yīng)該用做過鹽霧、防塵和霉菌試驗(yàn)的同一試驗(yàn)樣品進(jìn)行濕熱試驗(yàn)。為了評(píng)價(jià)電路中防潮材料在經(jīng)受極端溫度和振動(dòng)試驗(yàn)后是否還具有防潮作用，濕熱試驗(yàn)應(yīng)在溫度、振動(dòng)試驗(yàn)后進(jìn)行。對(duì)于密封或半密封的產(chǎn)品，主要是凝露影響產(chǎn)品的性能或由呼吸現(xiàn)象加速水蒸氣的滲透作用，因此常采用交變濕熱試驗(yàn)。恒定濕熱和交變濕熱的選用可根據(jù)產(chǎn)品的類型而定。如果吸附和吸收起主要作用，則使用恒定濕熱試驗(yàn)。有滲透而無(wú)呼吸作用時(shí)，可根據(jù)產(chǎn)品的類型及其應(yīng)用，選定恒定濕熱或交變濕熱試驗(yàn)。恒定濕熱和交變濕熱所得的試驗(yàn)結(jié)果基本一致時(shí)，從技術(shù)和經(jīng)濟(jì)上考慮，應(yīng)采用恒定濕熱試驗(yàn)。為了評(píng)價(jià)電路中的防潮材料,在經(jīng)受極端溫度或振動(dòng)試驗(yàn)后是否失去保護(hù)作用,通常濕熱試驗(yàn)不能在溫度、低氣壓和振動(dòng)試驗(yàn)之前進(jìn)行。

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防塵試驗(yàn)
防塵試驗(yàn)應(yīng)在霉菌、鹽霧和濕熱試驗(yàn)后進(jìn)行。因?yàn)榉缐m試驗(yàn)后會(huì)在試驗(yàn)樣品上產(chǎn)生塵覆蓋層和嚴(yán)重的磨蝕：另一方面，塵與其它環(huán)境參數(shù)如溫度、濕度的共同存在能夠引起腐蝕和霉菌生長(zhǎng)。在存在化學(xué)侵蝕性灰塵的情況下，暖濕環(huán)境能夠引起腐蝕。
因此會(huì)影響濕熱、霉菌和鹽霧試驗(yàn)的結(jié)果。另外，如需要根據(jù)高溫試驗(yàn)獲得的結(jié)果來(lái)確定防塵試驗(yàn)中的溫度參數(shù)，則防塵試驗(yàn)應(yīng)在高溫試驗(yàn)后進(jìn)行。
高溫后進(jìn)行防塵試驗(yàn)，可以考核產(chǎn)品是否在高溫中發(fā)生形變，最終影響其密封性，故一般把防塵、防水試驗(yàn)放置在高溫試驗(yàn)之后進(jìn)行，以考核產(chǎn)品在溫度影響下的密封性能。

防水試驗(yàn)
防水試驗(yàn)一般在任何順序上進(jìn)行，但若在動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)后進(jìn)行這能更有效地用于確定試驗(yàn)樣品機(jī)殼結(jié)構(gòu)的完整性。
因此對(duì)于需要進(jìn)行防水試驗(yàn)的帶機(jī)殼的產(chǎn)品，該試驗(yàn)盡量安排在振動(dòng)等動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)后進(jìn)行，更好地確定動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)后對(duì)其結(jié)構(gòu)完整性的影響。
為了避免防塵試驗(yàn)后產(chǎn)品上帶有的灰塵等雜物影響防水試驗(yàn)箱循環(huán)水過濾效果，應(yīng)先做防水試驗(yàn)，再進(jìn)行防塵試驗(yàn)。

太陽(yáng)輻射試驗(yàn)（光照試驗(yàn)）
太陽(yáng)輻射試驗(yàn)通常在試驗(yàn)序列的任何位置上進(jìn)行。但應(yīng)注意高溫和光化學(xué)效應(yīng)可能會(huì)影響材料的強(qiáng)度和尺寸，從而影響后續(xù)的動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)(如振動(dòng)試驗(yàn))的結(jié)果。
當(dāng)分析會(huì)產(chǎn)生這種影響時(shí)，應(yīng)將太陽(yáng)輻射試驗(yàn)安排在振動(dòng)試驗(yàn)后進(jìn)行。

溫度變化試驗(yàn)
溫度變化試驗(yàn)的上、下限往往使用高、低溫工作試驗(yàn)的上、下限，且在試驗(yàn)中產(chǎn)品在部分情況中處于工作狀態(tài)，故此類試驗(yàn)進(jìn)行時(shí)可以替代高溫工作試驗(yàn)，因其試驗(yàn)中高溫情況下產(chǎn)品為工作狀態(tài)，但不能代替低溫試驗(yàn)，因此試驗(yàn)開展時(shí)低溫工作時(shí)間過短，不能考核其低溫工作穩(wěn)定性。

冷熱沖擊試驗(yàn)
冷熱沖擊試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品的影響主要表現(xiàn)在材料破碎,各組成部分分離,運(yùn)動(dòng)部件粘結(jié)或運(yùn)動(dòng)減慢,快速凝露及結(jié)霜引起的電子或機(jī)械故障,表面涂層開裂,密封部件泄漏等。
冷熱沖擊試驗(yàn)的上、下限往往使用高、低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)的上、下限，因而高、低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)中獲得的試驗(yàn)樣品的溫度響應(yīng)特性等信息可在冷熱沖擊試驗(yàn)中采用。
因此冷熱沖擊試驗(yàn)一般安排在高、低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)后進(jìn)行。

高溫工作和低溫工作試驗(yàn)
高溫工作和低溫工作試驗(yàn)的溫度嚴(yán)酷度一般低于存儲(chǔ)類溫度10℃，對(duì)于部分大電流、高發(fā)熱的電器產(chǎn)品，其高溫工作試驗(yàn)可以代替高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)，因?yàn)槠涔ぷ鲿r(shí)溫度已經(jīng)超出其存儲(chǔ)溫度極限，故只需進(jìn)行高溫工作試驗(yàn)即可（例如：前組合燈）。

高溫存儲(chǔ)和低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)
低溫試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品的影響主要表現(xiàn)在使材料發(fā)硬發(fā)脆,破損開裂,強(qiáng)度降低,潤(rùn)滑劑粘性增加,潤(rùn)滑作用減小,電子元器件性能改變等。
低溫試驗(yàn)一般不會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生永久損壞,故在試驗(yàn)順序中常常安排在試驗(yàn)早期。低溫試驗(yàn)將大大改變低壓試驗(yàn)期間密封件性能高溫試驗(yàn)對(duì)產(chǎn)品的影響主要表現(xiàn)在改變材料的物理性能和尺寸,潤(rùn)滑粘度降低,潤(rùn)滑劑外流使連接處損失潤(rùn)滑能力,變壓器和機(jī)電組件過熱損壞,不同材料膨脹不一致使零件粘結(jié),電子電路穩(wěn)定性改變等。
高溫試驗(yàn)一般安排在試驗(yàn)早期,緊接著最初的動(dòng)力運(yùn)輸試驗(yàn)進(jìn)行。高溫試驗(yàn)將大大有助于增強(qiáng)密封件低壓試驗(yàn)效果。如果想要盡可能利用各試驗(yàn)作用之間的疊加效應(yīng)，則高、低溫試驗(yàn)應(yīng)在振動(dòng)和沖擊等力學(xué)試驗(yàn)之后、在低氣壓試驗(yàn)之前進(jìn)行，以取得最佳的組合暴露效果。

低氣壓試驗(yàn)
正常情況下，低氣壓試驗(yàn)應(yīng)在其它環(huán)境試驗(yàn)前進(jìn)行，即環(huán)境試驗(yàn)從低氣壓開始。原因是低氣壓對(duì)試驗(yàn)樣品破壞性較小，而且一旦有破壞，通常在壽命期早期發(fā)生。但當(dāng)試驗(yàn)樣品其它環(huán)境試驗(yàn)會(huì)對(duì)其低氣壓試驗(yàn)效果產(chǎn)生很大影響時(shí)，則低氣壓試驗(yàn)應(yīng)在這些試驗(yàn)后進(jìn)行。
這些試驗(yàn)和影響是：高溫和低溫試驗(yàn)影響密封效果、動(dòng)力學(xué)試驗(yàn)影響試驗(yàn)樣品的結(jié)構(gòu)完整性、太陽(yáng)輻射試驗(yàn)使非金屬零部件老化而降低強(qiáng)度。如果在這些試驗(yàn)后進(jìn)行低氣壓試驗(yàn)，其有害影響將進(jìn)一步被加大。

一般情況下，由于產(chǎn)品未來(lái)使用、運(yùn)輸和貯存過程非常復(fù)雜，往往不可能按既定的順序進(jìn)行，經(jīng)常會(huì)反復(fù)處于這三種狀態(tài)，這就使其未來(lái)將遇到的環(huán)境順序也不可能是固定的。因此大多數(shù)情況下不可能按實(shí)際使用的順序安排可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目，而是要從試驗(yàn)?zāi)康某霭l(fā)，根據(jù)前面所述的原則，進(jìn)一步考慮各個(gè)試驗(yàn)項(xiàng)目的特性及其相互可能產(chǎn)生的影響等要素，來(lái)選擇可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目的順序。以下簡(jiǎn)單分析各可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目的特性和影響，并盡可能提出順序安排建議。